激光光散射粒度儀的概念理解了，那計算參數不知大家清楚嗎？米氏(MIE)理論就是考慮了物質對光的吸收與各種電磁作用來計算散射強度的理論。因此折射率是米氏計算一項*的參數。通常激光光散射粒度儀在軟件設計中要計算幾種折射率不同的模型來適用于不同物質。因此折射率產生于測試之前，而不是物質測量的結果。

　　因此使用激光光散射粒度儀，首先需要確定樣品的折射率，一般的用戶根本不知道要測量的產品折射率的準確參數(據檢索目前尚無一種儀器可以準確測量粉末的折射率，折射率表中表示的只是物質的折射率，而非粉末的折射率，二者之間有很大差別)，因此只好隨意的選一種用來計算，如果計算不滿意再換一種。如此的折射率準確程度有多大，難道不令人懷疑嗎？
                                            

　　由激光光散射粒度儀(一般為He-Ne激光光散射粒度儀或半導體激光光散射粒度儀)發(fā)出的光束。經空間濾波器和擴束透鏡后，得到了一個平行單色光束，該光束照射到由分散系統(tǒng)傳輸過來的顆粒樣品后發(fā)生散射現象。研究表明，散射光的角度和顆粒直徑成反比，散射光強隨角度的增加呈對數衰減。這些散射光經透鏡后成像在排列有多環(huán)光電探測器的焦平面上。激光光散射粒度儀的多環(huán)探測器上的中央探測器用來測定樣品的體積濃度，外圍探測器用來接收散射光的能量并轉換成電信號，而散射光的能量分布與顆粒粒度分布直接相關。通過接收和測量散射光的能量分布就可以反演得出顆粒的粒度分布特征。

　　二 激光光散射粒度儀的散射理論發(fā)展史

　　激光光散射粒度儀主要依據Fraunhofer 衍射和Mie散射兩種光學理論。下面就激光光散射粒度儀的發(fā)展歷史作簡要闡述：

　　散射理論的研究開始于上一世紀的70年代。1871年，瑞利(Lord Rayleigh)首先提出了的瑞利散射定律，并用電子論的觀點解釋了光散射的本質。瑞利散射定律的適用條件是散射體的尺寸要比光波波長小。1908年，米氏(G. Mie)通過電磁波的麥克斯韋方程，解出了一個關于激光光散射粒度儀中光散射的嚴格數學解，得出了任意直徑、任意成分的均勻粒子的散射規(guī)律，這就是的米氏理論。1957年， H. C. Van de Hulst 出版了關于微小粒子光散射現象的專著，總結了激光光散射粒度儀的粒子散射的普遍規(guī)律，受到科技界人士的廣泛注意，這本專著被認為是光散射理論領域的經典文獻 。1969年，M . Kerker 系統(tǒng)論述了光及電磁波散射的一般規(guī)律，為散射理論的進一步發(fā)展做出了貢獻。1983年，C. F. Bo hren ，O. R. Huff man綜合前人的成果，又發(fā)表了關于激光光散射粒度儀微小粒子對光散射及吸收的一般規(guī)律，更全面地解釋了光的各種散射現象。至此，激光光散射粒度儀的散射理論的體系建立起來了。

　　實際上研究結果表明，激光光散射粒度儀對于測試顆粒粒度測量的準確度，是很有幫助的，不僅在折射率上有所提高，而且在測量時，也不會太受顆粒形狀，顆粒表面狀態(tài)，顆粒濃度的限制。雖然后二者影響程度并不小于前者但是，丹東百特儀器有限公司的儀器不僅準備了16種不同折射率的模型，而且為顆粒粒度的綜合校準提供了專門的軟件。為了對用戶負責，不至于給用戶造成錯覺，丹東百特儀器有限公司在測試報告中沒有表明折射率，原因是折射率并不能準確表示樣品的特性。只不過是計算中使用的一種模式代號而已。我們專業(yè)致力于研發(fā)激光光散射粒度儀長達數十年之久，如果您想了解更多關于激光光散射粒度儀的技術信息，歡迎您來電與我們一起探討。